0.65BaTiO3-0.35Na0.5Bi0.5TiO3薄膜的制备及其电学性能研究

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采用脉冲激光沉积法制备了0.65BT-0.35NBT/SRO/STO异质结构薄膜。通过XRD、AFM和SEM分析了0.65BT-0.35NBT薄膜的微观结构。XRD结果表明:0.65BT-0.35NBT为钙钛矿结构,其薄膜为沿c轴择优取向生长结构。0.65BT-0.35NBT薄膜表现出优异的铁电和压电性能,剩余极化强度达到38.1μC/cm^2。0.65BT-0.35NBT薄膜的居里温度(Tc~223℃)明显高于BTO的居里温度,是一种具有优异电学性能和较高的居里温度的BTO基铁电材料。
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