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采用X射线K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量，结果表明，使用X射线K值法对工业硅粉中二氧化硅进行定量相分析，可计算得出工业硅粉中二氧化硅的含量，能对工业硅粉中硅石掺假现象进行监督防治，是一种切实有效的检测方法。
K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量
【摘 要】
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采用X射线K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量，结果表明，使用X射线K值法对工业硅粉中二氧化硅进行定量相分析，可计算得出工业硅粉中二氧化硅的含量，能对工业硅粉中硅石掺假现象进
【机 构】
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昆明冶金研究院
【出 处】
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云南冶金
【发表日期】
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2017年6期
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