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分析了同步辐射和普通X射线源的巨大差别,计算了在D/max-rBX光机上进行EXAFS(ExtndedX-rayAbsorptionFineStructure)测量光强计数、能量分辨率、高次谐波等主要参数的限度。为了获得能够用于结构研究的EXAFS谱线,采取了一系列措施,如选用合适的靶材、工作电压电流、单色器晶体、狭缝、单道分析器等。作者强调探测器的有限线性范围是产生系统误差的主要原因之一,在实验室ESAFS测量中,总存在x射线光强与分辨能力的矛盾与协调问题,为此,计数率必须控制在2×104CPS以