用晶内偏析和晶粒间的界面物理特性检验合金组份均匀度进一步提高晶体管优品率

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本文介绍锗合金晶体管的发射极In-Ga合金球中,Ga的含量越过0.5%,提 高到0.8%,使锗晶体管的优品率获得大幅度提高。并着重讨论晶内偏析现象和晶 粒间的界面物理特性在合金组份均匀度检验技术中的应用。 This article describes the Germanium alloy transistor emitter In-Ga alloy ball, the Ga content of more than 0.5%, increased to 0.8%, the Germanium transistor excellent yield rate is greatly improved. And focuses on the application of segregation in grain boundaries and the interfacial physical properties between grains in the testing of alloy composition uniformity.
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