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我们使用射频-直流辉光放电系统制备了非晶碳氢膜(a-C:H),所用的衬底为半导体级抛光后的硅、锗单晶片,锗片纯度在9个9以上,硅片为N型,电阻率10~20Ω·cm为研究淀积源对膜层结构的影响,我们除使用气态源乙炔(C<sub>2</sub>H<sub>2</sub>)外,还使用了液态源戌烷(C<sub>5</sub>H<sub>12</sub>)。所用淀积参数为:高频频率10MHz,高频功率密度1.4