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电子设备电路系统设计随着深亚微米集成电路技术的进步，通常在同一IC上集成模拟-数字混合电路信号用于减少成本和竞争优势。数字电路的故障诊断技术达到较高的自动化程度并投入实际运行，其测试方法在模拟和混合信号电路测试及故障诊断中的应用前景和人们的期望相差甚远。对于模拟与数字混合信号器件来说，至今尚缺乏高效和系统化的可测性理论、方法和工具，主要原因在于模拟和混合电路本身的复杂性。本文介绍了模拟电路故障诊断方法中的专家系统、神经网络、小波变换，分析了内建自测试（BIST）技术在模拟-数字混合信号电路的故障诊断以及其发展趋势