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针对自动测试系统中存在的测试程序可互换性差、可移植性不强的问题，提出了一种新的仪器驱动器设计模型，采用IVI面向信号（IVI-SD）模型，同时利用COM技术对模型进行扩展。该模型实现了测试程序在仪器更换后不必重新编写，改善了自动测试软件的通用性、互换性，为解决自动测试系统的软件可移植性问题提供了一种新的思路。