论文部分内容阅读
利用X射线衍射（XRD）和喇曼（Raman）光谱对在陶瓷基底上近距离升华（CSS）制备的纯CdTe薄膜以及稀土镝（Dy）离子5×10^14cm^-2高剂量注入的CdTe薄膜进行结构和喇曼特性分析，并讨论了离子注入后的退火效应．研究结果表明，退火处理基本消除了离子注入引起的的损伤，稀土Dy离子的掺人改善了CdTe薄膜的结晶性能，增强了CdTe薄膜的喇曼活性．同时喇曼光谱的结果给出了CdTe薄膜中Te沉积物的存在情形．