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为克服钼铁中元素的偏析，应用了离心浇铸工艺制成蘑菇状的片样供X射线荧光光谱法用，对制样的过程作了详细的叙述。为制作工作曲线用了5个国外内钼铁标准样品及3个内控标准样品，用同一钼铁样品制备6个片样，按试验条件分别进行钼、硅、磷、铜4元素的测定，并对方法的精密度进行了试验，测得相对标准偏差（n=6）在0．24％～5．41％之间。在分析4个钼铁试样时，所得上述4元素的测定值与用化学方法所测得结果一致。