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对Cu-0.35Al-Y合金薄板带在短时间内的内氧化动力学进行了试验研究,测定了合金内氧化层的显微硬度和导电率.结果表明,Cu-0.35Al-Y合金薄板带在0.5h到2 h进行内氧化,其内氧化动力学曲线呈抛物线变化;微量稀土元素Y的加入促进了Cu-0.35Al合金薄板带的内氧化;随着内氧化时间的延长,合金的内氧化层深增加;本试验条件下,经950℃,2 h内氧化,Cu-0.35Al-0.05Y舍金薄板带试样内氧化层深达355μm,内氧化层显微硬度为101.5HV,导电率为82.5%IACS.