论文部分内容阅读
采用恒电流电化学技术直接在金属钼片上制备了具有白钨矿结构的钼酸盐（BaMoO4）薄膜。对BaMoO4薄膜进行了SEM测试，并对相应的测试结果进行了对比和分析。研究表明，在薄膜生长初期，其生长特性具有若干显著的特点，包括：晶核和晶粒优先选择在基体缺陷处堆砌和生长；生长初期形成的晶核都具有白钨矿结构的骨架：晶核和刚开始长大生成的晶粒都是疏松的；晶粒都明显显示有蜂窝状空隙存在等。在薄膜生长的初始阶段，晶粒基本上以其c轴垂直于薄膜基体表面进行生长；随着薄膜制备时间的延长，晶粒的生长方向倾向于按其c轴在薄膜的表面内