【摘 要】
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采用粉末压片–X 射线荧光光谱法对电气石标准物质候选物的均匀性进行检验.选择Si,Al,Mg,Fe,Ca,Na 等6 个元素作为检验元素,样品以随机方式进行测量,根据单因素方差分析的F
【机 构】
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山东省地质科学研究院、山东省金属矿产成矿地质过程与资源利用重点实验室
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采用粉末压片–X 射线荧光光谱法对电气石标准物质候选物的均匀性进行检验.选择Si,Al,Mg,Fe,Ca,Na 等6 个元素作为检验元素,样品以随机方式进行测量,根据单因素方差分析的F 值和测定值的相对标准偏差（RSD） 判定样品的均匀性,并计算了检测方法的误差和样品不均匀误差.结果表明,方差检验的F 计算值在0.80～1.93 之间,小于F临界值1.96,测定结果的相对标准偏差小于0.9% ;检测方法相对标准偏差和样品不均匀度（ 以RSD 表示） 均小于0.5%,说明制备的电气石标准物质候选物具有良好的
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