论文部分内容阅读
采用ICP-AES法测定钛铝系金属间化合物中Ta、Si的含量,研究了基体元素和共存元素的干扰以及消除方法.在本方法的测定范围内(Si 0.05%-1.00%、Ta 0.10%-4.00%),钽、硅测量的相对标准偏差(n=8)小于6%.方法简便、快捷,结果准确.
ICP-AES测定钛铝系金属间化合物中钽、硅
【摘 要】
：
采用ICP-AES法测定钛铝系金属间化合物中Ta、Si的含量,研究了基体元素和共存元素的干扰以及消除方法.在本方法的测定范围内(Si 0.05%-1.00%、Ta 0.10%-4.00%),钽、硅测量的相
【机 构】
：
北京航空材料研究院
【出 处】
：
光谱实验室
【发表日期】
：
2005年4期
其他文献
以全谱直读光谱法测定了米中11种微量元素.对米的消化方法、元素分析谱线的选择、背景校正、仪器分析参数等因素进行了研究,综合确定了最佳试验条件.试验表明测定元素的回收
报道了以Triton X-100为增溶剂,α,α′-联吡啶为活化剂,过硫酸钾氧化甲基绿催化动力学光度法测定痕量银的新体系.方法线性范围为2.0-60μg/L,检出限为7.5×10-10g/mL;相
合成了新显色剂 1- (2 -苯并噻唑 ) - 3- (5 ,7-二溴 - 8-喹啉 ) -三氮烯 (BTDBQT) ,并研究了在阳离子表面活性剂存在下与钴的显色反应。在 p H9.5— 10 .5的硼酸盐缓冲介质
为了更合理、科学地表示测量结果 ,本文按照 GUM和国家质量技术监督局颁布的计量技术规范 ,对电感耦合等离子体 -质谱 (ICP- MS)测量溶液中痕量 Sm的不确定度进行了评定 ,提
采用微波加热加压法和静电吸附自组装法在石英玻璃表面制备了银包覆金纳米粒子薄膜,利用原子力显微镜分析了薄膜的表面形态和结构,测定结晶紫分子在薄膜表面的拉曼光谱.结果