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利用拉曼光谱分别对Bi4Ge3O12(BGO)晶体以及BGO: Pb(0.02 wt %), BGO: Al(0.02 wt %)进行了分析研究。测得的拉曼光谱显示, 掺杂晶体对比纯的BGO晶体, 在某些特征峰处, 相对强度发生改变。此外, 对于掺杂的晶体, 部分拉曼特征峰会有偏移。因此, 可以通过测定拉曼光谱来判定样品是否含有杂质。