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对BEPCII-LINAC试验束上1．89GeV脉冲电子轰击铍靶产生的次级粒子进行蒙特卡罗模拟，得到次级粒子的能谱和角度分布谱。Geant4模拟显示混合粒子中质子能量大于35MeV的通量较大，且质子产额达到3．97×10^8s，同时质子对器件的注量率％可达6．32×10^5-1．cm-2。用试验束41。磁谱仪和E3线上的探测系统测量得到的质子能谱验证了次级粒子注量率和产额的模拟结果。模拟和实验结果都显示BEPCII—LINAC试验束次级束中的质子满足半导体器件单粒子效应实验要求。