【摘 要】
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研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术,考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力,导致故障诊断的结果很不准确,提出一种基于扫描链的新的可编程片上调
【机 构】
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计算机体系结构国家重点实验室（中国科学院计算技术研究所）,中国科学院计算技术研究所,中国科学院大学,龙芯中科技术有限公司
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研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术,考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力,导致故障诊断的结果很不准确,提出一种基于扫描链的新的可编程片上调试系统。该系统充分利用芯片的片上传输总线,通过添加极少的硬件电路,使芯片能够实时监测自身的运行状态,并在满足程序设定的条件后,自动触发故障诊断模式。该系统充分利用芯片内建扫描链,通过控制扫描链实现对芯片内部状态精确配置和观测。此外,该系统通过片上时钟电路对调试时钟进行精确控制,保证各模式时钟切换的正确性,同时还支持实速测试,为时序分析和调试提供新途径。该系统已在最新一款龙芯高性能通用处理器芯片上得到成功应用。
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