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平静状态下电离层总电子含量(TEC)随时间的变化通常可以视为平稳随机过程。然而，太阳或地球的突发事件(如太阳耀斑、地磁场的扰动)会引起电离层的扰动，破坏该平稳过程，从而引起其统计参数的变化。依据平稳随机过程—高斯过程的相关性质，利用其自协方差函数和TEC时间系列，构建了独立同标准正态分布的观测样本，并利用x~2假设检验的方法来探测电离层异常现象。此外，还利用了2000年7月14日太阳耀斑期间我国国际IGS跟踪站武汉GPS跟踪站的数据，进行了实例分析。结果表明，该方法可以有效地探测电离层异常现象。