【摘 要】
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本文介绍采用飞秒饱和吸收测量技术研究AlxGa1-xAs/GaAs多量子阱结构中受激载流子的超快弛豫特性.当激发光子能量大于样品势垒层能带隙时,受激产生于势垒层和势阱层连续态中的载流子分别在130和30fs时间内离开受激态,弛豫至准平衡态.势垒中的载流子被捕至势阱束缚态的情况主要发生于热载流子的冷却和复合过程的皮秒级时间内.
【机 构】
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中山大学激光与光谱学研究所,广州510275
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本文介绍采用飞秒饱和吸收测量技术研究AlxGa1-xAs/GaAs多量子阱结构中受激载流子的超快弛豫特性.当激发光子能量大于样品势垒层能带隙时,受激产生于势垒层和势阱层连续态中的载流子分别在130和30fs时间内离开受激态,弛豫至准平衡态.势垒中的载流子被捕至势阱束缚态的情况主要发生于热载流子的冷却和复合过程的皮秒级时间内.
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