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单粒子翻转（Single Event Upset,SEU）效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型（专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA）及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。