论文部分内容阅读
目的
探讨振幅整合脑电图(amplitude integrated electroencephalography，aEEG)在新生儿低血糖脑损伤急性期的改变以及其与疾病预后的相关性。
方法研究纳入2011年1月至2015年7月泉州市儿童医院新生儿重症监护室收治的47例新生儿低血糖脑损伤患儿。记录患儿的临床资料和治疗转归；采用aEEG进行脑功能监测；采用首都儿科研究所《0～6岁小儿神经心理发育检查表》进行患儿生后6月龄智能评估；分析aEEG背景活动分类，癫痫性电活动，睡眠觉醒周期，异常程度等参数与新生儿低血糖脑损伤患儿近期临床预后的相关性。
结果急性期aEEG波形：连续正常电压9例，不连续电压29例，连续低电压3例，爆发抑制6例；39例(83.0%)患儿记录到癫痫性电活动：单次惊厥、反复惊厥、惊厥持续状态分别为：11例、20例、8例；睡眠觉醒周期：无21例，不成熟17例，成熟9例。aEEG异常程度判定：正常7例，轻度异常9例，重度异常31例，其中重度异常中23例预后不良，包括死亡3例及随访至生后6月龄智能发育商≤69者20例。aEEG背景活动、睡眠觉醒周期分类以及aEEG异常程度与患儿临床近期预后通过双向有序等级相关性分析提示存在相关性(r＝0.714、0.696、0.746，均P<0.001)。
结论aEEG可以用于评估新生儿低血糖脑损伤患儿临床脑功能损伤严重程度及近期预后，是其脑功能监测的有用工具。