论文部分内容阅读
在微机电系统(micro electromechanical system,MEMS)的动态测量中,利用分形插值法可以提高MEMS器件面内位移测量的精度,利用图像边缘的分形特征,还可以实现离面位移和旋转角度的测试。而分形维数(fractal di-mension)的计算又是这些方法的关键。在研究目前最常用的分形维数计算方法-差分盒计数法(difference box counting,DBC)的基础上,提出了一种对"空盒子"不予计数的最优盒计数分形维数算法,克服了差分盒计数法存在"空盒子"被计数的缺