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损耗因子与温度、频率、电导率和磁芯尺寸的依赖关系引出如下结论:即从0至100℃的中间温度范围内涡流效应常常是主要的。涡流途径明显地是通过大于晶粒尺寸小于磁芯外围尺寸的一些区域而建立的。磁滞损耗与铁氧体材料的成分及结构有关。具有收缩磁滞回线的铁氧体(虽然具有强的时效)以及具有恒导磁率铁镍合金型的倾斜磁滞回线的铁氧体均可达到最低的磁带损耗,结晶内部具有气孔的粗糙结晶铁氧体其特征是磁滞损耗高,即使在低频时,在强磁场下测得的导磁率也具有强的驰豫现象这也是其特征。