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采用试样粉末直接压片，基体效应用仪器软件方法校正，谱线重叠干扰以本文提出的“干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数K，输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5，SiO2，Al2O3，CaO，MgO，MnO，TiO2，Cr2O3，S，P含量。该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好，试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0．09％-0．64％范围内。