一种Philip Mifare1-S70卡片的区块可用性校验方法及实现

来源 :江西科学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gongfangqing
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
针对信息系统一卡通项目建设过程中Philip Mifare1-S70卡片的残次品问题,通过对卡片故障现象进行深入分析,得出卡片异常情况有读卡失败、写卡失败、写入与读出内容不一致3种常见类型,并结合工程案例提出了一种区块可用性校验方法,给出了具体的区块可用性校验步骤和实现过程。实际应用表明,通过这种事先校验的手段,测试人员能够快速地挑拣出有故障的卡片,杜绝了异常卡片进入流通环节,为企业节约了人力及物力成本。
其他文献
台湾地区工研院所最近与华通计算机和嘉联益科技两家公司共同开发成功高速电光PCB板(Electro-Optical Printed Circuit Board)及其关键技术“有机光波导软膜技术”,据称此项技术将对计算机宽频网络及其服务业所需的GHZ级高速信息号传输环境提供强有力的支持。  目前台湾地区电子所开发的光电基板已经通过2.5GHZ实际传输应用及信号眼图测试,以此技术制作之光电总线(Bus)