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介绍了使用X射线荧光光谱法测定氧化铝陶瓷主次量成分。用熔融玻璃片法制样，此方法简单，迅速，成本低。选用铝土矿GBW07177～GBW07182和GSB04—2606—2010系列标准样品，采用仪器软件SuperQ中提供的飞利浦模式的经验系数（Classic）和基本参数法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应，使用Magix（PW2403）x射线荧光光谱仪对样品中的Al2O3，SiO2，Fe2O3，TiO2，K2O，Na2O，CaO和Mg0共8个元素进行测定，各组分的RSD均小于3．36％，测量结果与计算值的误