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使用闭合场非平衡磁控溅射离子镀体系于镁合金表面制备了CrAlTiN膜层，检测了膜层厚度和硬度，在扫描电子显微镜（SEM）下观察了膜层的表面形貌和截面形貌，使用了X衍射仪分析了膜层的相组成。结果表明：薄膜组织为纤维状柱状晶组织，随着偏压增大，膜层表面致密性增强，颗粒头部平滑，颗粒间孔洞减少；CrAlTiN薄膜具有与CrN相同的晶体结构，在偏压为40V时出现了（111）晶面的择优取向，在60V时出现了（220）晶面的择优取向。