全自动在片直流测试技术对提高GaAs MMIC批量生产成品率的作用

来源 :功能材料与器件学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liuzhao256
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成品率高低是批量生产能否进行的关键。采用全自动在片直流测试 ,对参数进行统计分析 ,能判断成品率是否正常 ,并帮助找出影响成品率的原因。本文介绍了行之有效的测试统计和分析技术。 Yield rate is the key to whether the mass production can be carried out. The use of automatic in-chip DC test, the statistical analysis of parameters can determine the yield is normal, and help identify the factors that affect the yield. This article describes proven test statistics and analysis techniques.
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