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提出了一种测量小型天线的方法，以适应对数量极为庞大的终端天线产品特性的逐一检测。理论分析和实验验证均表明：谐振腔内放入双频天线时，会出现三个谐振频率，其一为加载天线后的腔体的谐振频率，另外两个是受外加激励由天线产生的辐射场。前者携带有天线几何结构及其构成材料的信息，后者含有天线辐射特性方面的信息。据此，建立了一套可对批量天线产品性能进行检测的谐振腔系统，该系统还可对其它小体积样品的物理特性进行测量，同时使谐振腔的应用由对一般材料特性的测量扩展到了对有辐射特性器件的测试。