用衍射仪进行点阵参数的精确测定

来源 :理化检验.物理分册 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shiqiuqiu100
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用衍射仪法测定点阵参数具有快速方便的特点,随着仪器与测试技术的不断进步,其应用正日趋普遍。本试验以硅粉为主要测试对象,设法得到比较精确的点阵参数值,并希望在保证可靠性的前提下尽量 The determination of the lattice parameters by the diffractometer method is quick and convenient. With the continuous improvement of instruments and testing techniques, its application is becoming more and more common. This test to silicon powder as the main test object, trying to get a more accurate lattice parameter values, and hope to ensure the reliability of the premise
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