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基于单片机的集成芯片测试仪设计
基于单片机的集成芯片测试仪设计
来源 :电子测试 | 被引量 : 0次 | 上传用户:bang67640
【摘 要】
:
系统以AT89S52单片机为核心,由LED数码管显示电路、测试电路和5V直流电源等模块组成.系统以高校实验环节常用的74系列芯片为例,根据芯片真值表编写程序到单片机内.利用测试仪检测芯片能否正常工作,并通过LED数码管显示测试结果.测试结果表明,该系统能够准确辨别出芯片质量.
【作 者】
:
刘隽晖
贾静
张健
赵艳丽
【机 构】
:
营口理工学院电气工程学院,辽宁营口,115014
【出 处】
:
电子测试
【发表日期】
:
2021年24期
【关键词】
:
测试仪
单片机
74系列芯片
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系统以AT89S52单片机为核心,由LED数码管显示电路、测试电路和5V直流电源等模块组成.系统以高校实验环节常用的74系列芯片为例,根据芯片真值表编写程序到单片机内.利用测试仪检测芯片能否正常工作,并通过LED数码管显示测试结果.测试结果表明,该系统能够准确辨别出芯片质量.
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