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为了能快速方便地测量半导体激光器的斜率效率，利用虚拟仪器技术，设计了斜率效率自动测试系统．计算机通过RS-232接口向半导体激光器发送控制命令字符，按照一定电流步长不断改变激光器的输出功率，控制AD采样电路读取激光功率计的读数．然后将激光器的驱动电流值和功率计读数存储下来，并进行曲线拟合，计算得到激光器的斜率效率值．得到的结果与激光器说明书的标称值基本一致．