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讨论了电子探针中X光分光谱仪的波长分辨力。除X光谱线的自然宽度外，弯晶光谱仪的分辨力是由一些实际因素决定的：弯晶光学系统的固有偏差、衍射晶体的镶嵌结构、晶体的有效厚度及X光源的有限体积。在不同条件下，上述因素中的一个或几个对限制波长分辨起主要作用。
电子探针中X光分光谱仪波长分辨力的讨论
【摘 要】
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讨论了电子探针中X光分光谱仪的波长分辨力。除X光谱线的自然宽度外，弯晶光谱仪的分辨力是由一些实际因素决定的：弯晶光学系统的固有偏差、衍射晶体的镶嵌结构、晶体的有效厚度
【机 构】
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南京江南光电（集团）股份有限公司
【出 处】
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光学仪器
【发表日期】
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2001年2期
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