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基于对EPROM读写特性和故障模型的分析,本文提出了采用随机测试图形的EPROM功能测试方法.这不仅可提高译码电路故障的检测率,而且能切实地反映出存贮单元状态间的耦合故障,比使用传统测试图形的功能测试具有更大的优越性.在微机上由线性反馈移位寄存器产生随机图形并采用快速编程技术成功地实现了用随机图形对EPROM进行测试.