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<正> 半导体工艺的发展,使我们可以在一个芯片中集成更多的功能。它同时也使IC设计工程师面临新的挑战,他们必须在最短的时间内完成比以前更复杂的设计。在这样一个大规模的IC设计中,设计错误和设计缺陷是不可避免的。这些缺陷可能是不正确的设计规范、错误地理解设计规范、工程师之间的误解以及对情况的考虑不完全等等造成的。大部分这些设计错误和缺陷都属于RTL级代码的功能错误或缺陷,这种错误