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本文介绍一个实用数字集成电路层次式测试图形自动生成（ＡＴＰＧ）系统－ＦＤ－Ⅲ。ＦＤ－Ⅲ的特点是把测试生成和电路设计结合起来，充分利用电路的层次式结构，借助于电路和功能块已有的测试和模拟结果，加快整个电路的测试生成。该系统能对由ＷｏｒｋＶｉｅｗ等ＣＡＤ系统描述的层次式组合电路，同步时序电路进行ＡＴＰＧ。其故障模拟（ＦＳ）子系统能对包括异步模块在内的电路进行故障模拟、测试压缩，并给出优化的测试集及其性