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A Harmful-Intrusion Detection Method Based on Background Reconstruction and Two-Dimensional K-S Test
【机 构】
:
CollegeofInformationEngineering,NorthChinaUniversityofTechnology,Beijing,100144,ChinaSchoolofAeronau
【出 处】
:
PhotonicSensors
【发表日期】
:
2016年6期
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