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目的:研究褶合光谱模式识别系统杂质检查能力.方法:采用高斯函数模拟样品和杂质的吸收光谱,求出各杂质在主成分存在下的检测限.结果:得出了杂质检测限随物质相关性变化的分布趋势.结论:褶合光谱模式识别系统是一种高分辨率的杂质检查手段.
褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察
【摘 要】
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目的:研究褶合光谱模式识别系统杂质检查能力.方法:采用高斯函数模拟样品和杂质的吸收光谱,求出各杂质在主成分存在下的检测限.结果:得出了杂质检测限随物质相关性变化的分布
【机 构】
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中国人民解放军第95医院药械科,第二军医大学药学院
【出 处】
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药学实践杂志
【发表日期】
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2003年6期
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