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用X射线光电子能谱(XPS)分析了与样品托有良好电接触的银片及其上面的AgCl.观察到在使用样品磁透镜和非单色化X射线源的实验条件下不导电的AgCl的电子峰产生异常大的谱峰位移,还发现这种异常谱峰位移可以应用于XPS成象分析,以提高化学位移很小的元素化学态(如Ag0和Ag+)的XPS象的分辨能力.