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本文介绍了关于PZT—S<sub>3</sub>型压电陶瓷元件装入电—2头部引信后的压电模量d<sub>33</sub>和电容量C的老化情况。从7年的试验数据说明,在储存初期（一年半内）d<sub>33</sub>和C与时间的对数基本上呈线性关系下降。在中期（一年半至四年）d<sub>33</sub>和C的回升现象,且有升有降,波动明显呈非线性。在后期（4年至七年）又基本上呈线性关系下降,但下降很缓慢。证明了P