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采用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)的标准加入法测定离子膜电解槽饱和盐水中痕量杂质Ca、Mg、Fe、Ni、Ba、Sr、Al、Si、Hg和I的含量。结果表明:ICP-OES标准加入法可准确测定入槽饱和盐水中10种痕量杂质的含量,具有灵敏度高、检出限低、分析速度快、操作简单、可行性好等特点,可作为饱和盐水进入离子膜电解槽前的质量监控;盐水中各杂质元素的检出限满足入槽饱和盐水的工艺要求,能够为氯化法钛白粉的工业化生产提供原料。