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对试验的ＥＭＧ导轨烧蚀进行了测试，分析与讨论，研究表明具有前级加速装置和等离子电枢ＥＭＧ导轨烧蚀包括弹丸偏心撞击坑，引弧时的局部灼坑及稳定弧的均衡烧灼三部分。对此提出了导致导轨烧蚀与表层屠地等离子电枢结构模型，它包含主电枢与中性气化区，兆安级电流的主电枢具有５×１０＾８Ｗ量级的功率是导轨烧蚀的主导因素，中性气化区对导再涂是导轨表层改性的根本原因。