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静校正量可以分为高频校正量与低频校正量。在缺乏精确的全深度速度模型的前提下，为了进行起伏地表偏移成像，需要首先确定一平滑起伏基准面进行表层高频量校正，再进行自起伏基准面的速度分析与偏移成像。为此，提出了基于层析模型的表层高频校正量提取方法及相应的平滑基准面确定方法。在理论模型与实际资料应用中与传统方法进行了对比，证实了高频静校正与起伏基准面偏移成像相结合可以取得较好的效果。