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通过飞秒泵浦一探测方法测量了波长为800nm时InP半导体纳米颗粒激发态的瞬态动力学过程。观察到一个快速的光致漂白建立和一个漂白的恢复过程，分析饱和吸收的来源可能是带填充效应引起跃迁的饱和吸收。对于漂白恢复中的快过程是由于自由载流子的弛豫，而慢成分是由于光激发载流子在很短的时间内受陷于表面态形成的限域载流子的弛豫。通过飞秒光克尔效应（OKE）方法测量材料的超快非线性响应曲线，计算了材料的光学三阶非线性极化率，分析了非线性的来源。