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变老的 T6 山峰和 T8 山峰对待的新奇 Al-Li 合金的脱落腐蚀行为被电气化学的阻抗光谱学(EIS ) 学习技术。侵蚀的样品的表面形态学被扫描电子显微镜(SEM ) 检验。未侵蚀的样品的微观结构被传播电子显微镜(TEM ) 观察。在在 EXCO 的沉浸的早舞台，二件不同地处理的样品的 EIS 阴谋在低频率范围在高频率范围和一个引入的环由一条电容的弧组成。引入的循环与增加沉浸时间和二条电容的弧消失出现。对待 T6 的合金比对待 T8 的有更高的脱落危险性，由开始时间的不同脱落建议了，它分别地是 23