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针对集成电路验证向量生成与功能覆盖率收敛的问题，提出一种基于遗传算法的功能覆盖率收敛技术．通过计算分析遗传算法中遗传算子的慨率分布函数，获得由比例选择算子、均匀交叉算子以及二元变异算子组成的遗传算法，得到覆盖率广、重复性低的验证向量，在最短仿真时间内达到预先设定的功能覆盖率．实验采用基于Turbo芯片的图像处理硬件加速器作为验证模型，将遗传算法嵌入到以System Verilog语言为基础的层次化验证平台中．结果表明，与全随机向量验证相比，该算法有效增加了功能覆盖率并使仿真时间缩短了25％左右，实现功能覆