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SiGeHBT基区结构的优化对欧拉电压的影响
SiGeHBT基区结构的优化对欧拉电压的影响
来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yufengdetianxia
【摘 要】
:
欧拉电压是SiGeHBT一项重要的直流参数,受到基区结构(如Ge组分)的影响。研究发现,高温过程会导致硼的外扩散,从而影响异质结的位置,使欧拉电压受到影响。实验发现,通过优化基区结构,
【作 者】
:
王玉东
徐阳
张伟
李希有
刘爱华
【机 构】
:
清华大学微电子学研究所
【出 处】
:
微电子学
【发表日期】
:
2006年5期
【关键词】
:
SIGE
HBT
欧拉电压
硼外扩散
SiGe HBT Early voltage Boron out-diffusion
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欧拉电压是SiGeHBT一项重要的直流参数,受到基区结构(如Ge组分)的影响。研究发现,高温过程会导致硼的外扩散,从而影响异质结的位置,使欧拉电压受到影响。实验发现,通过优化基区结构,加厚CB结处i-SiGe厚度,可获得Va=520V,卢玖=164,320V的SiGeHBT。
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