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采用解析法对X光分幅相机中微通道板单孔内电子运动、碰壁和二次发射一系列过程进行了建模与求解，依托商业Lorentz-2D软件，得到了二次电子初能量分布、电子碰壁前能量分布、渡越时间分布等仿真曲线。实验测量了分幅相机的静态灵敏度曲线，与仿真结果对比分析表明：光电子首次碰撞深度是影响相机增益的重要因素，给出了修正后的增益与电压关系表达式，定性分析了工作偏压等参数对首次碰撞深度的影响。