离子色谱法检测高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质

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建立了柱后衍生 -紫外检测 -离子色谱法同时测定高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质含量的方法.方法选用 具有阴阳离子交换基团的高选择性 T h ermo Scient ific Dionex^TM IonPac^TM CS 5A色 谱 柱 ,选 择 与 铁 形 成 单 - 络 合 形 态、中等络合能力的 2,6-吡啶二羧酸( PDCA)为淋洗液,在线柱后添加普适性的 4 -2 -吡 啶 偶 氮 苯 二 酚 ( PAR)金 属显 色剂,于 530 nm 波长下准确完成了二价和三价铁离子的分离测定.结果表明
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