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本文分析了点聚焦透镜天线的一些基本特性,采用波动理论方法分析了电磁波经透镜会聚的焦斑的大小和横向空间分辨率,指出点聚焦透镜天线在会聚点的天线特性与相同场分布的平面口径天线在无穷远处的天线特性的关系,提出了透镜天线的分辨率的一种测量方法和使用条件.通过实测,测量结果和理论较为吻合.
点聚焦透镜天线及分辨率的分析与测量
【摘 要】
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本文分析了点聚焦透镜天线的一些基本特性,采用波动理论方法分析了电磁波经透镜会聚的焦斑的大小和横向空间分辨率,指出点聚焦透镜天线在会聚点的天线特性与相同场分布的平面
【机 构】
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电子科技大学物理电子学院
【出 处】
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电子测量与仪器学报
【发表日期】
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2004年2期
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