轻带电粒子诱发反应产生次级中子的研究对于加速器屏蔽设计和优化具有重要意义.利用Geant4程序结合INCL、BIC、BERT物理模型分别计算了33 MeV的d核、65 MeV的3He核和4He核轰击厚的碳、铜和铅靶在,,,和0?15?45?75?135?等方向出射中子的双微分产额,并与实验数据进行了比较.研究表明,对于33 MeV的d核诱发的核反应,INCL模型的计算结果基本上再现了碳靶和铜靶的实验数据,但高估了铅靶直接过程产生的中子.BIC模型和BERT模型的计算结果没有重现弹核削裂过程对应的宽峰.对于65 MeV的3He核诱发的核反应,三个模型的计算结果均未能重现前向角弹核削裂过程产生的中子,但在,,和15?45?75?135?上三个模型的计算结果与实验数据符合较好.对于65 MeV的4He核诱发的核反应,INCL模型的计算结果与碳靶和铜靶的实验数据符合较好,但低估了铅靶的中子产额.BIC模型和BERT模型的计算结果低估了碳靶的实验数据,且在大角度上略微高估了铅靶的实验数据.